Yarıiletken ince filmlerin iç yapılarının incelenmesi / Microstructural investigation of semiconductor thin films

MEHMET KAYA

URI: http://hdl.handle.net/11508/18660

Tarih: 2001

Tüm öğe kaydını göster

Bu öğenin dosyaları

Ad: 114306.pdf

Boyut: 6.547Mb

Biçim: PDF

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ

Göz at

Tüm DSpace
Bu Koleksiyon

İstatistikler

Kullanım İstatistiklerini Göster

Yardım